[00008411]基于IEEE 1500 的嵌入式SRAM存储测试结构
联系人： 徐老师
所在地：广西壮族自治区 桂林市
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技术详细介绍
本实用新型公开了一种基于IEEE1500的嵌入式SRAM存储器测试结构，该测试结构由嵌入式SRAM的测试壳封装与SRAM测试控制器两部分构成，测试封装壳解决了嵌入式SRAM的测试访问、测试隔离和测试的控制问题，SRAM测试控制器根据测试算法生成测试激励数据、控制封装壳Wrapper、进行响应分析、输出测试结果。应用该测试结构及测试方法，能够检测出嵌入式SRAM存储器存在的故障，有利于嵌入式SRAM存储器的测试复用，可以有效的提高SoC的集成效率。
