[00077071]一种三维天线阵列综合孔径辐射计的图像反演方法
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201710130736.4
交易方式:
完全转让
许可转让
技术入股
联系人:
罗亚芳
所在地:湖北 武汉市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要:本发明公开了一种三维天线阵列综合孔径辐射计的图像反演方法,包括S1计算所有基线的三维空间频率;S2随机产生Q组场景并将该Q组场景作为Q个观测场景;S3计算三维天线阵列综合孔径辐射计输出的可见度值;S4得到Q组场景对应的可见度Vq与测量的可见度相减误差S5计算Q组误差的范数Eq,并将范数Eq记为第q个场景的权值;S6若误差范数Eq小于该场景之前所有迭代中得到的误差范数,则其为第q个场景的局部最匹配场景;S7若本次迭代的全局最小误差范数小于之前所有迭代中的全局最小误差范数,则其为全局最匹配场景;S8迭代计算直至满足结束条件。本发明的方法能有效提高三维天线阵列综合孔径辐射计反演图像的精度,适用于规则或不规则排列的三维天线阵列综合孔径辐射计。