[00075954]一种基于激发发射光谱分离同时测量受体‑供体量子产额之比与消光系数之比的方法
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201710649949.8
交易方式:
完全转让
许可转让
技术入股
联系人:
许恩平
所在地:广东 广州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要:本发明公开一种基于激发发射光谱分离同时测量受体‑供体量子产额之比与消光系数之比的方法,属于FRET检测技术领域。该方法包括如下步骤测量2种或2种以上受体个数与供体个数比值相同且FRET效率不同的供体‑受体串联样本的激发发射光谱SDA[i],并将SDA[i]按照三个激发发射光谱基矢进行线性分离得到三个权重因子WD[i],WA[i]和WS[i];以WA/WD为自变量,WS/WD为因变量,线性拟合WA[i]/WD[i]、WS[i]/WD[i],线性方程的斜率与nA/nD的乘积的倒数为KA/KD,截距的绝对值为QA/QD。本发明测量过程简单、测量时间短、测量结果稳定并且适用于不同的检测系统。