[00070741]三维扫描系统中点云拼接用标志点匹配方法
交易价格:
面议
所属行业:
软件
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:200610041321.1
交易方式:
完全转让
联系人:
王尧
所在地:江苏 南京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
技术投资分析:
一种能够对点云拼接时标志点的进行快速匹配的方法:
首先将逐次扫描开始的第一幅点云标志点集合按照空间坐标与距离值,动态划分层,形成层嵌套;
其次设逐次扫描开始的第一幅点云为基准,对逐次扫描开始的第一幅点云与逐次扫描开始的第二幅点云进行标志点匹配时,在搜索识别前预先估计符合实际运动规律的数据区域,采取区域数据匹配的方法,匹配识别对准之后将处理结果数据加入相应的数据层,进行下一步的预测估计,同时动态的修正数据层,不断加以记忆和优化;
寻找逐次扫描的第一幅点云与逐次扫描的第i幅点云的标志点匹配时,以此类推。
技术的应用领域前景分析:
光栅投影三维测量是将经过编码的光栅条纹经投影仪投影到被测物体,由CCD采集到受被测物体型面调制的变形光栅条纹的二维图像后,通过图像处理技术和三维转换模型得到被测物体的三维外轮廓型面。光栅投影三维测量由于具有视场大、可移动、非接触、测量速度快、获取数据多等优点,在制造业(CAD/CAM)、医学、服装、娱乐、文物保存等许多行业有非常广阔的应用前景。
东南大学自动化学院达飞鹏教授带领课题组经过数年的努力,开发出具有完全自主知识产权的可移动式高精度光学三维测量设备3D-Free,与国际同类高端产品相比,基于其独特和有创新性的构建模型,对系统硬件的依赖大大降低,具有更好的性能,其测量精度达到:在物距为1000mm时,单幅精度为0.03mm,系统精度为0.08mm/m,最大测量范围可达10m以上,达到国际先进水平。现处于产品化前期阶段。
效益分析:
本技术效益十分可观。
厂房条件建议:
无
备注:
无