[00070736]基于直线相位的光栅自校正方法
交易价格:
面议
所属行业:
软件
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:200710023585.9
交易方式:
完全转让
联系人:
王尧
所在地:江苏 南京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
技术投资分析:
一种三维扫描系统中基于直线相位的光栅自校正方法主要涉及到逆向工程中,用相移法得到四幅相移图,然后,对所得的四幅相移图进行直线相位转换,对直线相位进行最小二乘直线拟合得到拟合直线相位,将偏离拟合直线相位的相位点调整到拟合直线相位上得到调整相位点,接着根据调整相位点,用相移法进行反变换,得到新的四幅相移图,将新的四幅相移图与原四幅相移图进行比较,得到投射光栅到采集光栅之间的传递函数,以传递函数为校正优化函数,校正计算机生成光栅,实现了光栅的自校正。该方法有效地改善了投影光栅波形的正弦性和精确相移,既能提高光栅波形的鲁棒性,也能提高相移精度,进而提高系统的测量精度。
技术的应用领域前景分析:
光栅投影三维测量是将经过编码的光栅条纹经投影仪投影到被测物体,由CCD采集到受被测物体型面调制的变形光栅条纹的二维图像后,通过图像处理技术和三维转换模型得到被测物体的三维外轮廓型面。光栅投影三维测量由于具有视场大、可移动、非接触、测量速度快、获取数据多等优点,在制造业(CAD/CAM)、医学、服装、娱乐、文物保存等许多行业有非常广阔的应用前景。
东南大学自动化学院达飞鹏教授带领课题组经过数年的努力,开发出具有完全自主知识产权的可移动式高精度光学三维测量设备3D-Free,与国际同类高端产品相比,基于其独特和有创新性的构建模型,对系统硬件的依赖大大降低,具有更好的性能,其测量精度达到:在物距为1000mm时,单幅精度为0.03mm,系统精度为0.08mm/m,最大测量范围可达10m以上,达到国际先进水平。现处于产品化前期阶段。
效益分析:
本技术市场应用范围广,效益十分可观。
厂房条件建议:
无
备注:
无