[00063660]接触式MEMS开关寿命测试的方法和仪器
联系人： 齐晴
所在地：上海 崇明
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技术详细介绍
技术投资分析：
该方法利用连续方波脉冲信号驱动被测接触式MEMS开关的上、下电极，在该开关正常，即第一、二接触点间有开关动作时，计数器计数连续方波脉冲信号的脉冲个数，直至该开关疲劳失效，即第一、二接触点间无开关动作时，计数器停止计数，显示器显示的数字就是该被测开关的寿命指标，该仪器由方波发生器10、脉冲幅度转换器20、测试架30、开关动作监视器40、二输入端与门50、七位十进计数器及显示器60、指示器70和电源80组成，有线路抗干扰性能好，结构简单，元器件通用，测试效率高，每测试一个开关，时间仅为2~3min等优点，本发明特别适于用来测试接触式MEMS开关的寿命。
技术的应用领域前景分析：
一种接触式MEMS开关寿命测试的方法和仪器，属接触式MEMS开关器件测试技术领域。
效益分析：
本发明具有明显的社会效应和很大的经济效益。
厂房条件建议：
无
备注：
无
