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[00050825]一种用硒膜修饰电极测定铜离子的方法

交易价格: 面议

所属行业: 化工生产

类型: 专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:200910144921.4

交易方式: 完全转让

联系人: 安徽农大

所在地:安徽 合肥市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

  一种用硒膜修饰电极测定铜离子的方法,采用电化学三电极测试系统和阳极溶出微分计时电势法进行测定,以热裂解石墨为电极基质,在稀盐酸酸化介质中经Na2SeO3、Cu(II)还原共富集时形成的硒膜作为工作电极,其上共还原富集铜的硒化物Cu2Se,通过记录工作电极上电势E随测试时间T的变化函数并进行微分处理得到dT/dE→E的微分曲线,通过微分曲线上特征响应峰的高度计算Cu(II)的含量。本发明方法克服了传统汞电极的环境危害和剧毒性等缺点,并且具有测试灵敏度高,抗干扰性强,环保性好,成本低,流程短,便于操作,效率高的优点,可用于天然水质中微量或痕量铜离子的分析测定。   合作方式:专利转让或技术指导。

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