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[00005698]基于天线阵的多目标微位移测量方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410060204.4

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 陈红兵

所在地:重庆 重庆市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

摘要:本发明公开了一种大型建筑物多目标微位移测量方法,属于建筑物变形监测技术领域。本方法在被测物体上安装P个无源角反射器,在远离被测物体处安装阵列雷达。天线阵辐射信号照射所有角反射器并接收混合回波信号,并行形成P个最优波束分离出每个角反射器的回波信号,每个波束在需要分离的角反射器回波信号方向上增益最大,接收信号功率最强;在其它P‑1个角反射器回波方向上形成零陷,将干扰降至最小。检测发射信号与恢复的各角反射器回波信号相位差,将相位差变化量转换为各角反射器的微位移量。本方法解决了多个角反射器回波信号很难分离的问题,实现了多目标微位移测量,抗干扰能力强,能够很好地应用于建筑物的微位移测量中。

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