[00005698]基于天线阵的多目标微位移测量方法
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201410060204.4
交易方式:
完全转让
许可转让
技术入股
联系人:
陈红兵
所在地:重庆 重庆市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要:本发明公开了一种大型建筑物多目标微位移测量方法,属于建筑物变形监测技术领域。本方法在被测物体上安装P个无源角反射器,在远离被测物体处安装阵列雷达。天线阵辐射信号照射所有角反射器并接收混合回波信号,并行形成P个最优波束分离出每个角反射器的回波信号,每个波束在需要分离的角反射器回波信号方向上增益最大,接收信号功率最强;在其它P‑1个角反射器回波方向上形成零陷,将干扰降至最小。检测发射信号与恢复的各角反射器回波信号相位差,将相位差变化量转换为各角反射器的微位移量。本方法解决了多个角反射器回波信号很难分离的问题,实现了多目标微位移测量,抗干扰能力强,能够很好地应用于建筑物的微位移测量中。