[00042802]基于边界扫描的Flash芯片检测方法
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技术详细介绍
本发明公开了一种基于边界扫描的Flash芯片检测方法，属于芯片边界扫描领域。该方法先将被测Flash芯片的数据线、地址线、控制线三种信号线引脚分别与CPLD芯片的任意一条扫描链引脚连接，再将上位PC机的并口与CPLD芯片的四个JTAG脚连接，上位PC机通过TDI脚发送二进制信号给相应被测引脚，通过示波器观察相应信号的波形来判断引脚连接的正误。本发明是利用CPLD芯片的JTAG检测来间接检测非具有JTAG接口的FLASH芯片，操作方便，硬件及测试成本低，还可测试多种控制电路，减少外部测试接口数量。
