[00039029]基于谐振频率法的MEMS薄膜泊松比在线测量方法
交易价格:
面议
所属行业:
通信
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:201010106887.4
交易方式:
完全转让
联系人:
应亮
所在地:江苏 南京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种基于谐振频率法的MEMS薄膜泊松比在线测量方法,其步骤是:制作一个圆环形MEMS薄膜作为测试结构,其内边界固支在锚区上、外边界自由;锚区固定在衬底上;测量出圆环形MEMS薄膜的径向振动与横向振动的谐振频率,然后用径向振动和横向振动的谐振频率计算MEMS薄膜泊松比。本发明方法,无需预先知道薄膜杨氏模量及材料密度等的具体值,避免了因杨氏模量及材料密度等引起的误差,有利于精度的提高。由于圆环薄膜结构的对称性,锚区更接近理想固支。属于非接触式测量,测量过程不会对测试结构产生影响,可以保证测量的重复性。对于导体和非导体本方法均适用。测试结构制作简单。