[00039029]基于谐振频率法的MEMS薄膜泊松比在线测量方法
                
                    
                        交易价格:
                        
                            面议
                        
                    
                    
                        所属行业:
                                                
                        
                            通信
                        
                        
                        
                    
                    
                        类型:
                        发明专利
                    
                    
                    
                        技术成熟度:
                        正在研发
                    
                    
                    
                    专利所属地:中国 
                    专利号:201010106887.4
                    
                    
                        交易方式:
                        
                        
                        
                            完全转让
                        
                        
                        
                        
                    
                 
                
                    
                        联系人:
                        应亮
                    
                    
                    
                    
                    所在地:江苏 南京市
                    
                        - 服务承诺
- 产权明晰
- 
                            资料保密
                             对所交付的所有资料进行保密  
- 如实描述
 
             
            
            
         
        
            
                
技术详细介绍
            
            
                  本发明公开了一种基于谐振频率法的MEMS薄膜泊松比在线测量方法,其步骤是:制作一个圆环形MEMS薄膜作为测试结构,其内边界固支在锚区上、外边界自由;锚区固定在衬底上;测量出圆环形MEMS薄膜的径向振动与横向振动的谐振频率,然后用径向振动和横向振动的谐振频率计算MEMS薄膜泊松比。本发明方法,无需预先知道薄膜杨氏模量及材料密度等的具体值,避免了因杨氏模量及材料密度等引起的误差,有利于精度的提高。由于圆环薄膜结构的对称性,锚区更接近理想固支。属于非接触式测量,测量过程不会对测试结构产生影响,可以保证测量的重复性。对于导体和非导体本方法均适用。测试结构制作简单。