[00034226]一种测试双面芯片光电性能的方法及组件
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技术详细介绍
本发明公开了一种测试双面芯片光电性能的组件，包括一待测双面芯片，待测双面芯片的一面设有受光位置，另一面布有引脚，该组件还包括一玻璃基板和一印刷电路板，所述印刷电路板上设有通孔，所述待测双面芯片的受光面与玻璃基板固定连接，玻璃基板与印刷电路板固定连接，使待测双面芯片的受光位置位于所述通孔处；所述玻璃基板上设有过渡电路，所述印刷电路板上设有引出电路，各引出电路上分别设有测试电极；所述待测双面芯片的各电极分别与对应过渡电路经金线连接，各过渡电路分别与对应引出电路经金线连接。还公开了利用该组件测试双面芯片光电性能的方法，该组件不仅实现了双面芯片的光电性能测试，还保证了测试的准确性和可重复性。
