[00034116]采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法
交易价格:
面议
所属行业:
纳米及超细材料
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:201110182014.6
交易方式:
完全转让
联系人:
王老师
所在地:江苏 苏州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明提供了一种采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置,包括导电原子力探针、电源、探针控制器、第一电流计、第二电流计、样品台以及样品;样品置于样品台上,样品内部包括一界面;电源、导电原子力探针和样品相互串联组成了第一电学回路,第一电流计测量此第一电学回路中的电流;样品下表面和样品上表面通过外接导线组成第二电学回路,第二电流计用于测量此第二电学回路中的电流,探针控制器与导电原子力探针以及样品连接,用于捕捉导电原子力探针与样品之间的力学信号。