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[00034116]采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法

交易价格: 面议

所属行业: 纳米及超细材料

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:201110182014.6

交易方式: 完全转让

联系人: 王老师

所在地:江苏 苏州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

本发明提供了一种采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置,包括导电原子力探针、电源、探针控制器、第一电流计、第二电流计、样品台以及样品;样品置于样品台上,样品内部包括一界面;电源、导电原子力探针和样品相互串联组成了第一电学回路,第一电流计测量此第一电学回路中的电流;样品下表面和样品上表面通过外接导线组成第二电学回路,第二电流计用于测量此第二电学回路中的电流,探针控制器与导电原子力探针以及样品连接,用于捕捉导电原子力探针与样品之间的力学信号。

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