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[00034101]同时测量LED中衬底温度和器件层温度的方法

交易价格: 面议

所属行业: 纳米及超细材料

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:201110078117.8

交易方式: 完全转让

联系人: 王老师

所在地:江苏 苏州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

一种同时测量LED中衬底温度和器件层温度的方法,包括如下步骤:提供一LED结构,所述LED结构包括衬底及其表面的器件层;提供一激发光,聚焦入射在衬底靠近器件层一侧的表面上,同时激发得到衬底和器件层的拉曼光谱特征峰;根据衬底和器件层的拉曼光谱特征峰的频率值,计算衬底和器件层的温度。本发明的优点在于,通过采用一聚焦的竖直空间分辨率大于有源区的厚度的聚焦激光束来同时测定有源区和衬底的拉曼光谱特征峰,从而计算出两者在同一时刻的温度值,为研究LED散热问题提供直接的测量手段。

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