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[00022495]一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪

交易价格: 面议

所属行业:

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN200810229881.9

交易方式: 完全转让

联系人: 韩涤非处长

所在地:江苏 苏州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

  本发明涉及飞行时间质谱仪,具体的说是一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪,其包括脉冲进样装置、束源室和带有电离室的飞行时间质谱质量分析器,其特征在于电离室位于飞行时间质量分析器内部,脉冲进样装置的前端连接脉冲阀,脉冲进样装置伸入束源室内部,束源室位于激光电离室正上方,其出口通过喷嘴与激光电离室相连,一纳秒长波长高能激光器设置于飞行时间质谱质量分析器的外侧,激光器发出的高能激光束垂直穿过电离室,将纳米粒子完全电离为一价和高价离子,其高价离子比值可以准确反映纳米粒子组成元素的比值,由飞行时间质谱仪记录电离产生的离子。本发明可快速的对纳米粒子元素比值进行测量,测量不受电离激光能量变化的影响。

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