[00014076]光热偏转探测仪
联系人： 许尔杰
所在地：江苏 南京市
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技术详细介绍
光热偏转探测仪
对不透明样品，当样品受到周期性强度调制的聚焦激光束照射时，样品浅表层将形成周期性调制的热源。热波向样品内部及空气中传播，在样品内部及表面的空气层中就建立了周期性调制的温度梯度场。因此，在样品内部及表面的空气层中存在着频率与加热光调制频率相同的折射率梯度场。在加热光束聚焦点附近，让第二束探测光平行样品表面掠过，由于空气折射率梯度场的存在，探测光束就有了一定的偏转。对透明样品，则将另一束探测光平行于加热束在样品内通过，由于样品内折射率梯度场存在，探测光束同样有一定的偏转。通过测量这个偏转量就可求出样品的热扩散率。光热偏转探测仪的优点是一种非接触式的无损检测方法，而且，由于这种方法是局部检测，所以可用来检测小样品、非均匀样品以及各向异性材料的局部热扩散等热学性质和参量。近年来利用本仪器对半导体材料、金属、陶瓷、纳米材料、磁性材料和复合材料等进行了测量，特别适合于对小样品进行局部热学参数的定征，获得有价值的结果。
