[00001964]一种测量薄涂层厚度及其结合强度的方法
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201510133899.9
交易方式:
完全转让
许可转让
技术入股
联系人:
张玲
所在地:江苏 徐州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种测量薄涂层厚度及其结合强度的方法,属于涂层厚度测量及结合的方法。基体表面制备的厚度为10nm到1μm范围的薄涂层,通过原位纳米力学测试系统中的纳米划痕,在得到的纳米划痕数据结果中,可在摩擦系数随时间的变化曲线中找到曲线突变位置,结合法向力随时间的变化曲线,得出薄涂层被破坏时的法向载荷,再根据法向位移随时间的变化曲线得到压入深度,该深度即为涂层厚度,根据压入深度可计算出接触面积,进而计算出涂层的结合强度。优点1、无需结合强度比涂层结合强度高的粘结剂,可以测得更多涂层的结合强度。2、通过纳米划痕实验,可以得到具体的法向载荷,再根据压入深度和针尖曲率半径计算出接触面积,可以定量的得到结合强度的数值。