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[00001964]一种测量薄涂层厚度及其结合强度的方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201510133899.9

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 张玲

所在地:江苏 徐州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

一种测量薄涂层厚度及其结合强度的方法,属于涂层厚度测量及结合的方法。基体表面制备的厚度为10nm到1μm范围的薄涂层,通过原位纳米力学测试系统中的纳米划痕,在得到的纳米划痕数据结果中,可在摩擦系数随时间的变化曲线中找到曲线突变位置,结合法向力随时间的变化曲线,得出薄涂层被破坏时的法向载荷,再根据法向位移随时间的变化曲线得到压入深度,该深度即为涂层厚度,根据压入深度可计算出接触面积,进而计算出涂层的结合强度。优点1、无需结合强度比涂层结合强度高的粘结剂,可以测得更多涂层的结合强度。2、通过纳米划痕实验,可以得到具体的法向载荷,再根据压入深度和针尖曲率半径计算出接触面积,可以定量的得到结合强度的数值。

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