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[00001754]一种巷道表面位移、深部位移同位测量方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410186842.0

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 张玲

所在地:江苏 徐州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

一种巷道表面位移、深部位移同位测量方法。在巷道内至少布置一个测站,在测站同一垂直断面上顶板和两帮中部施工钻孔,安装深部位移计;在深部位移计装置上标记巷道表面位移观测点,按照“十字”观测法,测量巷道表面位移;根据公式Si=│(Bn‑B1)│‑(S读ni‑S读1i),计算得出深部位移真实值。常规巷道表面位移和深部位移测站布置在两个断面上,直接利用表面位移观测值,根据公式Si=│(Bn‑B1)│‑(S读in‑S读i1),得到深部真实位移值不精确,可将巷道表面位移和深部位移测站布置在一个断面上,消除因不同断面测量数据引起的误差,使结果更真实。该方法操作简单,安全可靠,正确率高,具有广泛的实用性和推广。

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