[00001754]一种巷道表面位移、深部位移同位测量方法
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201410186842.0
交易方式:
完全转让
许可转让
技术入股
联系人:
张玲
所在地:江苏 徐州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种巷道表面位移、深部位移同位测量方法。在巷道内至少布置一个测站,在测站同一垂直断面上顶板和两帮中部施工钻孔,安装深部位移计;在深部位移计装置上标记巷道表面位移观测点,按照“十字”观测法,测量巷道表面位移;根据公式Si=│(Bn‑B1)│‑(S读ni‑S读1i),计算得出深部位移真实值。常规巷道表面位移和深部位移测站布置在两个断面上,直接利用表面位移观测值,根据公式Si=│(Bn‑B1)│‑(S读in‑S读i1),得到深部真实位移值不精确,可将巷道表面位移和深部位移测站布置在一个断面上,消除因不同断面测量数据引起的误差,使结果更真实。该方法操作简单,安全可靠,正确率高,具有广泛的实用性和推广。